Espectrômetros de campo-próximo NFS-200 / 300

A JASCO é a primeira companhia a apresentar comercialmente um Espectrômetro de escaneamento óptico por fotoluminescência de campo-próximo. Apresentado na PITTCON 2000, os sistemas de temperatura ambiente NFS-200 e temperatura ultra-baixa NFS-300 (~6K) representam uma importante descoberta na resolução de espectroscopia espacial permitindo leituras ópticas do sub-comprimento da onda de uma amostra enquanto mapeia simultaneamente com alta resolução topográfica.

Os pontos chaves para o desempenho do sistema NFS estão na alta qualidade das sondas ópticas de campo-próximo feitas por um exclusivo processo de produção de forma consistente e aberturas requisitadas para leituras NSOM de confiança. As sondas JASCO podem ser otimizadas para resolução ou processamento e podem ser usadas com uma variedade de instrumentos NSOM. As sondas estão disponíveis para toda região do UV até o NIR e podem ser fabricadas sob encomenda de acordo com as necessidades específicas.

Série MSV-300

A série MSV-300 é um sistema microespectroscópico que possibilita medições de transmitância e reflectância de amostras microscópicas em uma ampla faixa de comprimento de onda,  do ultravioleta ao infravermelho próximo.  Medições convencionais exigem amostras com dimensões comparáveis a um milímetro de tamanho feixe óptico. A série MSV-300 pode medir cores,  espessura de filme, e outras propriedades espectrais de uma área microscópica. O sistema automatizado X-Y-Z, opcional, possibilita medidas multi-pontos e possibilita analyses de mapeamento de superfície.

• Ampla faixa de medição espectral
  Medição continua entre 250 e 2000nm (MSV-370) utilizando um espectrômetro com objetiva Cassegrain.
• Orientação simples
  A camera CCD integrada permite verificação de locais para análise e posicionamento de amostra enquanto define a fenda pelo software do sistema.
• Sistema Duplo-feixe
  Estabilidade de medição superior utilizando um espectrofotômetro de duplo-feixe.
• Posicionamento X-Y-Z automatizado
  Com um sistema opcional de posicionamento é possivel selecionar áreas discretas para medição utilizando o mouse enquanto se visualiza a amostra pelo monitor CCD.